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日本日置HIOKI 3505C测试仪3506

日本日置HIOKI 3505C测试仪3506
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产品名称: 日本日置HIOKI 3505C测试仪3506
产品型号: 3505C测试仪3506
产品展商: 北京中仪伟信科技有限公司
品牌厂商: 日本日置HIOKI
发布时间: 2009-9-14 15:45:27  

简单介绍
范围:100kHz

日本日置HIOKI 3505C测试仪3506的详细介绍

产品特点:


日本日置HIOKI 3505 C 测试仪3506

HIOKI(日置电机株式会社:日本国长野县上田市;社长:吉池达悦)开发出最适合于测量频率为1kHz、100kHz、1MHz测量所要求的低容量电容器测量的“C 测试仪 3506与C 测试仪 3505”。
  • 低容量C测量仪器
    C 测试仪 3506与3505是用于测量电解电容器以外的电容器的C(静电容量)测量仪器,可测量频率为1kHz、100kHz(仅限于3505)、1MHz的C(静电容量)与D(损耗系数)。C 测试仪 3506与3505的测量范围:C为0.000 fF~15.0000μF,D为0.00001~1.9900。最低量程为220 fF(1MHz时),与以往的产品相比,大幅度改进了微小容量测量的重复精度。提高了测量期间检测接触出错的能力,适合于装入自动检查设备。
  • 充实了从低容量到高容量的C仪表系列产品
    在已经发售的C 测试仪 3504的基础上新增本次发售的C 测试仪 3506与3505,可进行低容量到高容量的电容器C测量。各机型均可进行最快2ms的高速测量,除了可应对taping machine 之外,还可以通过可将C测量值划分为最多13或14*1类别的BIN功能应用于分选机。 另外,可保存最多99或70*2组的测量条件,除了可通过外部控制选择测量条件之外,还可以向外部输出比较器结果与BIN分选测量结果等,完善了便于构建与自动设备之间连接的接口。在构建高速自动化生产线上发挥出强大的威力。

    *13506与3505为13类,3504为14类
    *23506与3505为70组,3504为99组

HIOKI已销售了C 测试仪3504,电容器厂家与自动设备厂家还要求提供可测量低容量电容器的C测量仪器。C 测试仪 3506与3505继承了3504获得好评的高速检查与测量值分类BIN功能,是可对低容量电容器实现稳定测量精度并符合市场要求的产品。与3504一样,C 测试仪 3506与3505的接口也采用外部I/O?RS-232C?GP-IB为标准配备,因此充实了简易构建自动化生产线的功能

  • 最快2ms(模拟测量1ms)的高速测量 - 具有最快2ms(FAST时)的高速测量,可应对taping machine等的高速检查。测量速度可进行FAST/NORMAL/SLOW三档选择。
  • 提高了重复测量精度 - 最低C量程为220 fF(1MHz时),与以往产品相比,微小容量测量的重复精度得到了提高。
  • 充实了接触检测功能 - 利用振动检测功能等,可检测测量期间的接触出错。出现接触出错的测量对象并非不良,通过ERR(出错)判定,有助于提高成品率。
  • 比较器功能 - 可分别设定第1参数(C)与第2参数(D)的上、下限值。判定结果可利用蜂鸣器鸣响与LED显示进行通告,也可以进行外部输出,设定值可一直显示。
  • 只需要选择的简单操作与LED显示 - 是指从面板显示所标记的项目中只需要进行选择的简易操作。设定的测量条件通过点亮LED进行显示,一目了然,便于把握设定条件。
  • BIN分选功能 - C测量可根据测量值划分为最多13类,因此易于进行分选。
  • 触发器同步输出功能 - 施加触发后,输出测量信号,仅在测量时向被测元件施加信号。由于接触被测元件时没有大电流,因此减轻了接点的磨损。
  • 可保存70组测量条件 -可保存最多70组测量条件,可迅速应对重复测量较多的生产线的被测元件切换。可利用EXT I/O读取任意测量条件。
  • 打印机输出 - 通过RS-232C接口,可从选购件—9442打印机打印出测量值、比较器结果及BIN分选测量结果。这便于检查结果的数据附加。
  • EXT I/O?RS-232C,GP-IB标准配备 - 触发、测量条件的负载可从外部进行控制。另外,可进行比较器结果、BIN分选测量结果以及测量结束等的外部输出,完善了与自动设备之间的接口。
  • 符合JIS标准 - 针对电解电容器以外的电容器,以较低的价格实现了基于JIS C 5101-1的,频率为1kHz、1MHz的C-D(tanδ)测量。

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